徐忠:h-YMnO3-xBiFeO3双能隙电子能带结构的温度组分变化规律
发布人:   发布时间:2016-10-26   浏览次数:

        本文通过铁和铋共掺杂,实现了h-YMnO3薄膜晶格取向和表面形貌的显著调制。透射光谱确认了薄膜的双能隙结构。变温透射证明了Eg1几乎没有受到反铁磁相变的影响。这符合Katsufuji的介电反铁磁耦合模型。但Eg2很可能显著受到反铁磁相变的影响。通过螺旋畴模型,铁电畴和磁畴边界的钉扎弛豫以及氧空位在钉扎处积累等效应,解释了100K附近的异常临界温度点和100K以下Eg2收缩的原因。这不但有助于改进Katsufuji模型,而且有助于加深对电子能带结构、反铁磁相变弛豫以及两者关系的理解。


原文链接:http://iopscience.iop.org/0022-3727/49/46/465302