1) 红外光谱椭偏仪 型号:IR-VASE 技术指标:测试光谱范围300-5000 cm-1,角度范围26-90°,温度范围4.2-700 K 主要功能:探测材料晶格振动、光学常数以及材料微结构特性
2) 可见-紫外光谱椭偏仪 型号:V-VASE 技术指标:测试光谱范围190-2500 nm,角度范围20-90°,温度范围4.2-873 K 主要功能:用于半导体、电介质、聚合物、金属等各类样品的研究和分析
3) 自动椭偏仪 型号:SC630UVN 技术指标:测试范围250-1700 nm 主要功能:研究薄膜厚度、光学常数等
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