1) 真空型傅里叶红外光谱仪

型号：Vertex 80V

技术指标：测试范围10-10000 cm^-1；光谱分辨率0.5-4 cm^-1；温度范围4-800 K

主要功能：表征半导体材料的晶格振动以及红外声子模式，进而对样品进行定性或定量分析

  

  

  

2) 紫外可见分光光度计

型号：PerkinElmer Lambda 950

技术指标：测试范围175-3300 nm

主要功能：研究透射光谱、反射光谱和光学常数等

  

  

  

3) 光学超导磁体

型号：SM4000-10

技术指标：磁场范围0-10 T；温度范围1.5-300 K

主要功能：研究样品在磁场调控下的红外光学响应特性，分析磁光耦合等性质

  

  

  

4) 低温光学仪器

型号：SHI-4-1

技术指标：温度范围4.2-300 K

主要功能：提供低温环境