本研究系统地研究了高压下单层和粉晶ReSe₂的特定拉曼声子模行为和相变的演化。在压力依赖性研究中，我们观察到单层ReSe₂相变压力点分别在7.50和8.23 GPa处。通过比较不同压力下面内外声子模式的强度，我们发现面外振动(A_g)比面内振动(E_g)对应力场更加敏感。此外，我们利用偏振拉曼光谱来确定ReSe₂在金刚石顶砧（DAC）中晶轴的方向，并结合声子谱计算研究了单层ReSe₂在应力场影响下的复杂结构演化以及受压情况下具体的键角与键长变化。本工作对各向异性二维TMDs的物理结构研究提供了更为深入的解释，并探索了其在不同器件中的潜在应用性。该成果发表在J. Phys. Chem. Lett.上。

        原文链接：https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acs.jpclett.3c01784