本工作以厘米级二维Bi₂O₂Se薄膜为研究对象，对其层数及温度依赖的晶格动力学行为以及电子能带演变行为进行了系统的研究。通过利用拉曼光谱对声子演变的分析，我们揭示出该二维薄膜的声子频率与层数之间的特定依赖关系，并且发现由热力场引起的晶格热膨胀效应会导致声子的软化行为。另外，我们利用椭圆偏振光谱发现介电函数虚部与层数的依赖关系在紫外和可见-近红外波段中呈现出不同演化趋势。这可以由联合态密度、质量密度及激子效应的交替主导行为来解释。相关研究成果拓展了对Bi₂O₂Se薄膜介电行为的物理认识，并促进了新型光电器件的发展。该成果发表在Nanoscale上。

原文链接：https://pubs.rsc.org/en/content/articlelanding/2023/nr/d2nr05775a