本文采用变温椭圆偏振实验研究了不同W浓度掺杂对Ge₂Sb₂Te₅(GSTW)薄膜相变行为的影响。通过使用Tauc-Lorentz和 Drude模型对光学常数进行评估。当升温至相变温度附近时，GST和GSTW薄膜的光学带宽均迅速减小，而相应的光电导积分迅速增大。在此之前，GSTW薄膜具有一个杂质补偿过程。随着W浓度的升高，GSTW薄膜非晶态及晶态对应的光学带宽均分别减小，而相变温度随之升高。光学带宽减小可以归因于GST薄膜金属性的增强，相变温度的升高主要是由于晶体结构无序度的提高。